GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法:本标准为GB/T 25184-2010，标准的中文名称为X射线光电子能谱仪检定方法，标准的英文名称为Verification method for X-ray photoelectron spectrometers，本标准在2010-09-26发布，在2011-08-01开始实施。
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法;本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定;
本标准文件共有26页。
GB_T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法.pdf