SN/T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分:电感耦合等离子体质谱筛选法:电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分:电感耦合等离子体质谱筛选法（SN/T 2592.3-2010），该标准的归口单位为国家认证认可监督管理委员会，英文名为Determination of organotin compounds in electrical and electronic equipment. Part 3:Screening by inductively coupled plasma mass spectrometry。
电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分:电感耦合等离子体质谱筛选法（SN/T 2592.3-2010）是在2010-05-27发布，在2010-12-01开始实施。
本部分规定了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选方法。本部分适用于电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选。有机锡的测定低限(以锡计)为0.5mg/kg。
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SN_T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分_电感耦合等离子体质谱筛选法.pdf