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标准规范网»首页 › 行业标准 › 【SJ】电子行业标准 › SJ/T 11707-2018 硅通孔几何测量术语
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SJ/T 11707-2018 硅通孔几何测量术语

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liao1196648753 发表于 2021-4-9 18:14 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为SJ/T 11707-2018，标准的中文名称为硅通孔几何测量术语，本标准在2018-02-09发布，在2018-04-01开始实施。
本标准文件共有16页。
 SJ_T 11707-2018 硅通孔几何测量术语.pdf (10.55 MB)
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独醉丿懒 发表于 2022-1-15 08:32 | 显示全部楼层
支持下啊
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cyjri 发表于 2022-2-18 16:40 | 显示全部楼层
很给力~
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502141774 发表于 2025-3-13 23:37 | 显示全部楼层
感谢分享~
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