SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法

xuyifan · 发表于 2021-12-3 18:46

本标准为SJ 2214.6-1982，标准的中文名称为半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏三极管集电极一发射极反向击穿电压V(BR)CEO的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法.pdf (142.8 KB)

Later · 发表于 2022-8-3 15:37

很给力~

鬼血 · 发表于 2023-4-6 16:39

下载很快

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SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法

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