SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法

daguo · 发表于 2021-12-2 14:58

本标准为SJ 2214.4-1982，标准的中文名称为半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏二极管反向击穿电压V(BR)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法.pdf (134.48 KB)

jddi · 发表于 2021-12-17 22:00

感谢分享~

hqg · 发表于 2022-2-17 05:31

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SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法

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