电子材料功函数的测试方法（SJ 3195-1989），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for power function of electronic matericals。
电子材料功函数的测试方法（SJ 3195-1989）是在1989-02-10发布，在1989-03-01开始实施。
本标准规定了用扫描低能电子探针法测定电子材料的功函数。本标准使用于固态金属、合金以及电子发射材料。
本标准文件共有5页。 SJ 3195-1989 电子材料功函数的测试方法.pdf(744.68 KB)
