电子材料次级电子发射系数的测试方法（SJ 3196-1989），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for transmitting coefficient of secondary electron of electronic materials。
电子材料次级电子发射系数的测试方法（SJ 3196-1989）是在1989-02-10发布，在1989-03-01开始实施。
本标准规定了用电子枪法测定电子材料的次级电子发射系数。本标准适用于所有固态电子材料(包括金属、非金属、半导体与绝缘体)。
本标准文件共有5页。 SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法.pdf(739.27 KB)
