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QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验

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树达23 发表于 2021-12-10 03:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
电子设备环境试验条件和方法 低温试验(QJ 1239.3-1987),电子设备环境试验条件和方法 低温试验(QJ 1239.3-1987)是在1987-07-02发布,在1988-10-01开始实施。
本标准文件共有3页。
QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验.pdf (83.12 KB)
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qingchen123 发表于 2022-1-14 22:31 | 显示全部楼层
不错不错
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scotttz 发表于 2022-3-24 06:08 | 显示全部楼层
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