DB13/T 5695-2023 GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法

穿越火线客服 · 发表于 2023-6-7 19:09

《GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法》（DB13/T 5695-2023），适用地区为河北省，所属行业为无，《GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法》（DB13/T 5695-2023）是在2023-05-06发布，在2023-06-06开始实施。
本标准文件共有12页。

zxczxc · 发表于 2023-7-28 16:55

这个好啊，谢谢了。

fantasia · 发表于 2023-7-28 19:44

这个不错

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录