GB/T 44558-2024 III族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法

guowei · 发表于 2025-4-4 02:56

本标准为GB/T 44558-2024，标准的中文名称为III族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法，标准的英文名称为Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy，本标准在2024-09-29发布，在2025-04-01开始实施。
本标准文件共有15页。

GB_T 44558-2024 III族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法.pdf (5.71 MB)

A9B16 · 发表于 2025-4-11 05:21

谢谢分享......

63213 · 发表于 2025-4-11 05:21

金币不够啊。。。

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GB/T 44558-2024 III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法

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