本标准为GB/T 43088-2023，标准的中文名称为微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法，标准的英文名称为Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals，本标准在2023-09-07发布，在2024-04-01开始实施。
本标准文件共有24页。 GB_T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法.pdf(21.87 MB)
