本标准为JC/T 2342-2015，标准的中文名称为氮化硅材料相含量分析方法，标准的英文名称为Method for the quantitative phase analysis of silicon nitride，本标准在2015-07-14发布，在2016-01-01开始实施。
本标准规定了X射线多晶衍射法测定氮化硅材料相含量的术语和定义、仪器、测试步骤以及定量分析方法。本标准适用于氮化硅中α相和β相的定量分析。在含有这两相以外的结晶相或非结晶相的情况下,仅对其中的α相和β相的相对质量百分比进行分析。当α相或β相含量≤1%时,本标准不适用。
本标准文件共有8页。
JC_T 2342-2015 氮化硅材料相含量分析方法.pdf
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