带电粒子半导体探测器测量方法（GB/T 5201-2012），该标准的归口单位为全国核仪器仪表标准化技术委员会，英文名为Test procedures for semiconductor charged particle detectors。
带电粒子半导体探测器测量方法（GB/T 5201-2012）是在2012-06-29发布，在2012-11-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60333-1993,NEQ。
本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
本标准文件共有16页。
GB_T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法.pdf
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