康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量(JB/T 9499.7-1999),该标准的归口单位为仪表功能材料标准化技术委员会,英文名为Method for chemical analysis of constantan resistance alloy The molybdosilicate blue photometric method for the deternination of silicon content。
康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量(JB/T 9499.7-1999)是在1999-08-06发布,在2000-01-01开始实施。
本标准适用于康铜电阻合金中硅量的测定。测定范围:0.010%~0.12% 。
本标准文件共有5页。 JB_T 9499.7-1999 康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量.pdf(200.31 KB)