SJ 20400-1994 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法

xiaopi · 发表于 2021-12-8 02:53

本标准为SJ 20400-1994，标准的中文名称为低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法，标准的英文名称为Methods of near. field measurement for planar waveguide -- fed slot arrays with low sidelobes，本标准在1994-09-30发布，在1994-12-01开始实施。
本标准规定了低副瓣平板裂缝天线(以下简称天线)性能的平面近场测试方法。本标准适用于频率从3GHz到18GHz,副瓣电平劣于-35dB的线极化平板裂缝天线性能的近场测试。相邻波段及其它形式面天线也可参照使用。
本标准文件共有18页。

SJ 20400-1994 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法.pdf (3.32 MB)

... · 发表于 2022-1-10 08:10

感谢分享

E吾索友 · 发表于 2022-1-13 08:57

强强强强

sssda · 发表于 2024-11-22 19:44

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SJ 20400-1994 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法

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