SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

cheer · 发表于 2021-12-10 13:22

晶体管低频噪声参数测试方法（SJ/T 11765-2020），晶体管低频噪声参数测试方法（SJ/T 11765-2020）是在2020-12-09发布，在2021-04-01开始实施。
本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。
本标准文件共有9页。

SJ_T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf (3.7 MB)

a1661685338 · 发表于 2022-8-6 23:03

强强强强

各种染 · 发表于 2022-8-6 23:03

这个不错

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SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

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