宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法（GB/T 43226-2023），英文名为Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit。
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法（GB/T 43226-2023）是在2023-09-07发布，在2024-01-01开始实施。
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
本标准文件共有9页。 GB_T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法.pdf(722.46 KB)
