DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

陌曦 · 发表于 2024-12-27 00:20

本标准为DB51/T 3207-2024，标准的中文名称为集成电路测试用微波探针应用规范，适用地区为四川省，所属行业为制造业，本标准在2024-12-03发布，在2024-12-29开始实施。
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
本标准文件共有10页。

DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf (542.36 KB)

1462655241 · 发表于 2024-12-28 08:52

终于找到了大神厉害

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