SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法

qwqwq · 发表于 2021-4-11 07:31

本标准为SJ/T 11500-2015，标准的中文名称为碳化硅单晶晶向的测试方法，标准的英文名称为Test method for measuring crystallographic orientation of monocrystalline silicon carbide，本标准在2015-04-30发布，在2015-10-01开始实施。
本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。
本标准文件共有8页。

SJ_T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法.pdf (1.05 MB)

qindongyang · 发表于 2022-5-17 01:46

谢谢分享！！！！

爱你爱到死！ · 发表于 2022-6-19 03:46

感谢分享~

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SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法

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