SY/T 6414-1999 全岩光片显微组分测定方法:本标准为SY/T 6414-1999，标准的中文名称为全岩光片显微组分测定方法，标准的英文名称为Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks，本标准在1999-05-17发布，在1999-12-01开始实施。
本标准作废日期为2015-03-01。被标准SY/T 6414-2014替代。
该标准采用了标准ISO 7404/3-94,NEQ。
本标准规定了在偏反光显微镜下,用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。
本标准文件共有6页。
SY_T 6414-1999 全岩光片显微组分测定方法.pdf