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SY/T 6414-1999 全岩光片显微组分测定方法

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本标准为SY/T 6414-1999,标准的中文名称为全岩光片显微组分测定方法,标准的英文名称为Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks,本标准在1999-05-17发布,在1999-12-01开始实施。
本标准作废日期为2015-03-01。被标准SY/T 6414-2014替代。
该标准采用了标准ISO 7404/3-94,NEQ。
本标准规定了在偏反光显微镜下,用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。
本标准文件共有6页。
SY_T 6414-1999 全岩光片显微组分测定方法.pdf (955.34 KB)
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lanlinchuxi 发表于 2022-4-22 00:57 | 显示全部楼层
感谢分享~
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bluehut 发表于 2024-6-4 00:27 | 显示全部楼层
好资源,正好需要
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