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GB_T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法.pdf

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GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法:

光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法（GB/T 41805-2022），英文名为Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging。
光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法（GB/T 41805-2022）是在2022-10-14发布，在2023-05-01开始实施。
本标准文件共有16页。

标准封面截图：
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法

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