光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法（GB/T 41805-2022），英文名为Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging。
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法（GB/T 41805-2022）是在2022-10-14发布，在2023-05-01开始实施。
本标准文件共有16页。 GB_T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法.pdf(4.42 MB)
