SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻:本标准为SJ/T 2658.15-2016，标准的中文名称为半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻，标准的英文名称为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 15: Thermal resistance，本标准在2016-01-15发布，在2016-06-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管（以下简称器件）热阻的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
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SJ_T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分_热阻.pdf