SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法第15部分:热阻

子衿 · 发表于 2021-4-11 21:45

本标准为SJ/T 2658.15-2016，标准的中文名称为半导体红外发射二极管测量方法第15部分:热阻，标准的英文名称为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 15: Thermal resistance，本标准在2016-01-15发布，在2016-06-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管（以下简称器件）热阻的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
本标准文件共有6页。

SJ_T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法第15部分_热阻.pdf (2.25 MB)

fyhwr6 · 发表于 2022-5-9 01:39

看看先

Fell · 发表于 2022-7-26 22:46

好资源，正好需要

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻

相关帖子

SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法第15部分:热阻