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SJ 20746-1999 液晶材料性能测试方法

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液晶材料性能测试方法(SJ 20746-1999),该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究所,英文名为Test method for the properties of liquid crystal materials。
液晶材料性能测试方法(SJ 20746-1999)是在1999-11-10发布,在1999-12-01开始实施。
本标准规定了液晶材料的熔点、清亮点、粘度、电阻率、光学各向异性、介电各向异性、弹性常数、阈值电压和饱和电压的测试方法。本标准通用于液晶材料主要性能的检测。
本标准文件共有12页。
SJ 20746-1999 液晶材料性能测试方法.pdf (1.84 MB)
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10086 发表于 2022-1-13 22:46 | 显示全部楼层
看一下
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aV丶ZiYuan海 发表于 2022-5-18 16:52 | 显示全部楼层
这个不错
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