SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

qwechenxiaozhon · 发表于 2021-12-10 13:25

二极管低频噪声参数测试方法（SJ/T 11767-2020），二极管低频噪声参数测试方法（SJ/T 11767-2020）是在2020-12-09发布，在2021-04-01开始实施。
本标准规定了二极管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。
本标准文件共有8页。

1950425432 · 发表于 2021-12-27 05:45

看看先

807688739 · 发表于 2022-3-20 04:53

好资源，正好需要

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