GB/T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法

hflyer · 发表于 2024-6-12 14:21

本标准为GB/T 42975-2023，标准的中文名称为半导体集成电路驱动器测试方法，标准的英文名称为Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device，本标准在2023-09-07发布，在2024-01-01开始实施。
本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。
本标准文件共有27页。

GB_T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法.pdf (1.55 MB)

雅芯 · 发表于 2024-6-15 12:51

强强强强

故巷旧人 · 发表于 2024-6-21 23:57

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GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

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