SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

laoba66 · 发表于 2021-4-11 18:15

发光二极管外延片测试方法（SJ/T 11471-2014），该标准的归口单位为工业和信息化部电子工业标准化研究院，英文名为Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes。
发光二极管外延片测试方法（SJ/T 11471-2014）是在2014-10-14发布，在2015-04-01开始实施。
本标准规定了可见光发光二极管外延片的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。
本标准文件共有11页。

SJ_T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法.pdf (4.63 MB)

法国爱好 · 发表于 2021-12-28 19:51

谢谢分享！！！！

雅杰啊 · 发表于 2022-2-10 14:55

支持一下

l339211 · 发表于 2025-2-16 11:26

好资料，谢谢楼主分享

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

相关帖子