SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法

Error · 发表于 2021-12-7 12:05

半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法（SJ 2658.6-1986），该标准的归口单位为无，半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法（SJ 2658.6-1986）是在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
它在2016-04-01作废。被标准SJ/T 2658.6-2015替代。
本标准适用于红外发光二极管输出光功率的测试。
本标准文件共有2页。

SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法.pdf (56.19 KB)

羁绊 · 发表于 2022-4-29 23:30

这个好啊，谢谢了。

mooncn · 发表于 2023-8-1 10:52

谢谢分享！！！！

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SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法

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