标准规范网

 找回密码
 QQ一键登录

QQ登录

只需一步,快速开始

搜索

DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法

[复制链接]
disho 发表于 2023-6-7 17:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为DB13/T 5696-2023,标准的中文名称为基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法,适用地区为河北省,所属行业为无,本标准在2023-05-06发布,在2023-06-06开始实施。
本标准文件共有13页。
DB13_T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法.pdf (861.27 KB)
本站所有内容均来自于网友分享,仅供个人学习使用,本站不对该内容负责。
回复

使用道具 举报

timliyong 发表于 2023-6-19 04:52 | 显示全部楼层
看看先
本站所有内容均来自于网友分享,仅供个人学习使用,本站不对该内容负责。
回复

使用道具 举报

qizhongjie 发表于 2023-10-18 13:24 | 显示全部楼层
强强强强
本站所有内容均来自于网友分享,仅供个人学习使用,本站不对该内容负责。
回复

使用道具 举报

Archiver|手机版|小黑屋|下载中心|使用帮助|联系我们|标准规范网

GMT+8, 2024-12-23 01:20

Powered by 标准规范网

Copyright © 2018-2021, 标准规范网

快速回复 返回顶部 返回列表