SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法辐射通量的测试方法

yangzi · 发表于 2021-12-7 21:25

半导体红外发光二极管测试方法辐射通量的测试方法（SJ 2658.7-1986），该标准的归口单位为无，半导体红外发光二极管测试方法辐射通量的测试方法（SJ 2658.7-1986）是在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
它在2016-04-01作废。被标准SJ/T 2658.7-2015替代。
本标准适用于红外发光二极管辐射通量的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法辐射通量的测试方法.pdf (24.66 KB)

199906095588 · 发表于 2022-2-4 02:47

支持下啊

萨达发生的 · 发表于 2022-7-31 05:10

看看。。。

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SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法

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