SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法

wkylls.F · 发表于 2021-12-8 17:20

半导体光敏二极管暗电流的测试方法（SJ 2214.3-1982），该标准的归口单位为无，半导体光敏二极管暗电流的测试方法（SJ 2214.3-1982）是在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏二极管暗电流I(p)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法.pdf (131.68 KB)

xiaohui888 · 发表于 2022-5-21 01:28

看看先

hurentian · 发表于 2022-5-26 05:55

感谢分享

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SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法

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