SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法

e65130 · 发表于 2021-12-3 03:01

本标准为SJ 2215.14-1982，标准的中文名称为半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于光耦合器人出间绝缘耐压的V(ISO)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法.pdf (135.27 KB)

w123 · 发表于 2022-8-25 17:21

看看。。。

qq45362834 · 发表于 2024-4-8 20:26

感谢分享

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SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法

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