SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法总则

616515212 · 发表于 2021-12-2 01:52

本标准为SJ 2658.1-1986，标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法总则，本标准在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
本标准作废日期为2016-04-01。被标准SJ/T 2658.1-2015替代。
本标准适用于半导体红外发光二极管光电参数的测试,其光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。
本标准文件共有2页。

SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法总则.pdf (42.49 KB)

情话与狗 · 发表于 2022-6-4 04:10

不错不错

a1911388279 · 发表于 2022-7-7 12:13

很给力~

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则

相关帖子

SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法总则