SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

拾荒男。 · 发表于 2021-12-9 17:22

本标准为SJ 21160-2016，标准的中文名称为微波组件低气压检漏试验方法，标准的英文名称为Low pressure leak detection test method for microwave assembly，本标准在2016-12-14发布，在2017-03-01开始实施。
本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。
本标准文件共有8页。

SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法.pdf (5.18 MB)

帅的被人砍 · 发表于 2022-3-3 20:03

好资源，正好需要

王嗣源 · 发表于 2022-9-1 13:03

支持下啊

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SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

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